可控硅怎么测量好坏?全面检测方法与步骤详解

可控硅怎么测量好坏?全面检测方法与步骤详解

可控硅怎么测量好坏

测量可控硅好坏需要结合多种方法进行综合判断,以下是具体操作步骤:

外观检查

- 观察器件表面是否有烧焦、裂纹、变形等物理损伤

- 检查引脚是否有氧化或断裂现象

万用表检测(二极管档)

- AK极测试:红表笔接A极,黑表笔接K极,显示正向压降(0.4-1V);反接应显示无穷大

- GA极测试:红表笔接G极,黑表笔接A极,显示正向压降;反接显示无穷大

- GK极测试:双向都应显示一定阻值(约几十欧)

触发特性测试

- 万用表调至电阻档(R×1)

- 红表笔接A极,黑表笔接K极,此时阻值应很大

- 用导线短接G极和A极,阻值应立即变小并保持

- 断开G极触发后,阻值应保持低位

实际工作测试(推荐方法)

`circuit

A极---[灯泡]---(+电源)

K极---(-电源)

G极---[按钮]---(+电源)

`

- 通电后灯泡不应亮

- 按下按钮时灯泡应立即点亮

- 松开按钮后灯泡应保持点亮(单向可控硅)或熄灭(双向可控硅)

专业仪器检测

- 使用晶体管图示仪观察特性曲线

- 测试转折电压、维持电流等参数

注意事项

- 测试前先对器件放电

- 大功率可控硅建议使用12V以上电源测试

- 双向可控硅需要分别测试两个方向的导通特性

- 测量时避免用手直接接触引脚

通过以上方法可以较全面判断可控硅的好坏,建议优先采用实际工作测试法,结果最可靠。

可控硅测量好坏的具体步骤?

测量可控硅好坏的具体步骤如下:

准备工具:

- 数字万用表(带二极管测试档)

- 1.5V电池(可选)

- 100Ω左右电阻

测量步骤:

1. 断开电路电源

确保被测可控硅完全断电,最好从电路板上取下测量

测量阳极-阴极电阻

将万用表调至电阻档(20kΩ或更高)

- 红表笔接阳极(A),黑表笔接阴极(K)

- 正常应显示高阻值(几百kΩ以上)

- 交换表笔测量应同样显示高阻值

若出现低阻值则可能击穿损坏

测量门极-阴极电阻

将万用表调至二极管测试档

- 红表笔接门极(G),黑表笔接阴极(K)

- 正常显示0.5-1V正向压降

- 交换表笔测量应显示开路

若双向导通或完全开路则损坏

触发测试(需辅助电池)

a. 万用表红表笔接阳极,黑表笔接阴极(电阻档)

b. 用1.5V电池正极通过100Ω电阻触碰门极

c. 正常可控硅应立即导通(显示低阻值)

d. 断开电池后应保持导通状态

e. 断开阳极供电才能复位

双向可控硅额外测试

对T1和T2极重复上述测试

需双向都能触发导通

注意事项:

- 测试前先放电(短接各引脚)

- 避免用手直接接触引脚

- 大功率可控硅可能需要更高触发电压

- 完全测试需搭建实际电路验证

如何用万用表测量可控硅的好坏?

测量可控硅好坏需要分步骤进行,以下是详细操作方法:

准备工作

- 确保可控硅与电路完全断开

- 准备数字万用表并调至二极管测试档(有蜂鸣器档更佳)

- 识别可控硅引脚:阳极(A)、阴极(K)、控制极(G)

初步检测

- 用万用表测量A-K极间正反向电阻

- 正常情况:两次测量均应显示开路(OL)

- 若出现导通则说明器件已击穿损坏

触发特性测试

- 红表笔接A极,黑表笔接K极

- 此时应显示开路状态

- 保持表笔接触状态下,用导线短暂连接G极和A极

- 正常反应:

万用表显示导通(有读数)

断开G极后应保持导通状态

* 断开A-K连接后再次测量应恢复开路

维持电流测试(进阶)

- 若设备允许可串联电源和负载

- 触发后观察是否能维持导通

- 断开触发信号后应能保持导通直到电流低于维持电流

异常情况判断

- 无法触发:控制极损坏

- 触发后不能维持:维持特性失效

- 任意两极间短路:器件击穿

- 控制极与阴极短路:控制极损坏

注意事项:

- 测试双向可控硅时需分别测试两个方向

- 大功率可控硅建议配合测试电路验证

- 测量前先对器件放电(特别是刚从电路拆下的)

- 某些数字万用表的测试电流可能不足以触发可控硅

对于不确定的情况,建议搭建简单测试电路验证,使用3-12V电源串联灯泡作为负载进行实际导通测试更可靠。

可控硅损坏的常见表现及检测方法?

可控硅损坏的常见表现及检测方法:

常见损坏表现:

1. 完全短路

- 阳极与阴极间电阻接近0Ω

- 设备通电即触发无法关断

- 伴随过热或烧毁痕迹

完全开路

- 各引脚间均呈高阻状态

- 设备完全无反应

- 无触发信号时阳极-阴极电阻无限大

触发极失效

- 控制极与阴极间电阻异常

- 需要更高触发电压才能工作

- 触发后维持电流异常

漏电流增大

- 关断状态下仍有较大漏电流

- 静态功耗明显增加

- 器件温升异常

检测方法:

1. 万用表检测

- 二极管档测量A-K极间正反向电阻(正常应有单向导电性)

- 测量G-K极间电阻(正常值几十到几百欧)

- 测量A-G极间电阻(正常应接近无穷大)

通电测试

- 搭建测试电路(建议串联限流电阻)

- 用3-5V直流脉冲触发控制极

- 观察负载通断状态是否正常

专业仪器检测

- 使用晶体管图示仪观察特性曲线

- 漏电流测试(施加额定电压测量关态电流)

- 触发灵敏度测试(逐步增加触发电压)

注意事项:

- 检测前先断开电路电源

- 大功率可控硅需配合散热器测试

- 测量触发极时避免使用高阻挡(可能损坏器件)

- 更换时注意型号参数匹配(特别是dV/dt和di/dt参数)

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